Sur une nouvelle méthode de mesure optique des épaisseurs. (Q1508401)

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Sur une nouvelle méthode de mesure optique des épaisseurs.
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    Sur une nouvelle méthode de mesure optique des épaisseurs. (English)
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    1902
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    (Siehe auch JFM 33.0845.02) Beschreibung einer neuen Messungsmethode kleiner Dicken. Die Methode stützt sich auf bekannte Formeln für die Abhängigkeit der Ordnung der Interferenzstreifen von der Dicke der zugehörigen Schicht.
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