A Fourier series method for the determination of the components of interatomic distances in crystals. (Q2618711)

Ein Maximum der ``Faltung'' von \(\varrho (x)\), d. h. des Integrals \[ A(t)=d^{-1} \int _0^d \varrho (x) \varrho (x+t) dx, \] für den Wert \(t_0\) läßt vermuten, daß die Kurve \(\varrho (x)\) zwei Maxima im Abstande \(t_0\) hat. Eine Verallgemeinerung dieser Überlegung liefert ein Verfahren, um die Komponenten der Atomabstände in einem Kristall zu bestimmen, wenn man die \textit{Fourier}\,komponenten der Entwicklung der Elektronendichtefunktion \[ \varrho (x,y,z) =\sum _{h,k,\ell =-\infty }^{\infty } a_{h,k,\ell } \exp \left ( 2\pi i \left (\frac {hx}{a} +\frac {ky}{b} +\frac {\ell z}{c} \right ) \right ) \] kennt. Diese Koeffizienten gewinnt man unmittelbar aus den \textit{Fourier}\,koeffizienten der Kristallreflexion. An zwei Beispielen wird gezeigt, wie gute Ergebnisse dieses verhältnismäßig einfache Verfahren liefert.